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EPOCH650超聲探傷儀
全VGA透反寬屏顯示與已獲的數(shù)字式高動(dòng)態(tài)范圍接收器一起使用,可使儀器屏幕在多數(shù)光線條件下都顯示穩(wěn)定、清晰的A掃描圖像。EPOCH 650型儀器的設(shè)計(jì)符合EN12668-1標(biāo)準(zhǔn)的要求,而且具有齊全的標(biāo)準(zhǔn)及可選購(gòu)的缺陷探傷功能。多個(gè)機(jī)載報(bào)告制作工具以及綜合性較強(qiáng)的數(shù)據(jù)填充系統(tǒng),可使用戶方便地收集和報(bào)告高質(zhì)量的檢測(cè)數(shù)據(jù)。這款儀器堅(jiān)固耐用,設(shè)計(jì)符合人體工程學(xué)的要求,因此幾乎可以用于任何檢測(cè)環(huán)境中;而且儀器還配有靈活的PerfectSquare脈沖發(fā)生器以及同類產(chǎn)品中較多數(shù)量的數(shù)字式濾波設(shè)置,因此幾乎可以完成任何檢測(cè)應(yīng)用。
機(jī)型設(shè)計(jì)適用于所有檢測(cè)環(huán)境EPOCH 650型儀器可用于幾乎所有檢測(cè)環(huán)境,其中包括實(shí)驗(yàn)室工作臺(tái)上的測(cè)試操作,以及條件十分惡劣、危險(xiǎn)的戶外檢測(cè)應(yīng)用。EPOCH 650型儀器的飛梭旋鈕硬件配置符合IP66侵入保護(hù)評(píng)級(jí)的要求,瀏覽鍵區(qū)硬件配置符合IP67侵入保護(hù)評(píng)級(jí)的要求,此外,儀器還通過(guò)了十分嚴(yán)格的環(huán)境和可靠性標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試。操作人員在多數(shù)檢測(cè)環(huán)境中使用這款儀器,都會(huì)對(duì)儀器的操作性能及耐用性能信心十足。 | 主要特性
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EPOCH 650型儀器的主要設(shè)計(jì)宗旨是通過(guò)簡(jiǎn)單的基本儀器提供高水平的探傷性能。 EPOCH 650儀器的設(shè)計(jì)符合人體工程學(xué)的要求,且簡(jiǎn)單直觀、方便實(shí)用,無(wú)論經(jīng)驗(yàn)豐富還是初涉行業(yè)的超聲檢測(cè)人員都可得心應(yīng)手地使用這款探傷儀。 簡(jiǎn)單直觀的用戶界面EPOCH 650型儀器的用戶界面基于廣受好評(píng)的EPOCH 600探傷儀。EPOCH 650型儀器使用簡(jiǎn)單的菜單結(jié)構(gòu)進(jìn)行儀器設(shè)置、校準(zhǔn)及軟件功能調(diào)整等操作,其EPOCH品牌標(biāo)志性的快捷鍵 可訪問(wèn)關(guān)鍵的檢測(cè)功能,如:增益、閘門調(diào)整、屏幕凍結(jié)及文件保存。EPOCH 650型儀器直觀的用戶界面提供多種文字版本,可供任何水平的操作人員使用。 | EPOCH 650 DGS/AVG特性 - 標(biāo)準(zhǔn)屏幕模式 |
全屏模式下明亮的VGA顯示EPOCH 650型儀器具有全VGA(640 X 480像素)分辨率的顯示。其橫寬豎窄的面板設(shè)計(jì)優(yōu)化了出現(xiàn)在高質(zhì)量顯示屏上的A掃描圖像的大小及清晰度。這款儀器使用透反技術(shù),在光線較暗的室內(nèi)使用強(qiáng)背光,在陽(yáng)光直射的情況下使用環(huán)境光作為假背光。無(wú)論在何種光線條件下,儀器的VGA屏幕都可顯示十分清晰的圖像。 儀器的全屏模式進(jìn)一步增強(qiáng)了屏幕鮮明清晰的顯示特性,可提供所有EPOCH系列探傷儀中的A掃描! | EPOCH 650 DGS/AVG特性 - 全屏模式 |
為了滿足不同用戶的需要與偏好,EPOCH 650型儀器備有兩種硬件配置供用戶選擇:
飛梭旋鈕EPOCH 650型儀器的飛梭旋鈕與確定鍵和退出鍵一起使用,可以對(duì)參數(shù)值進(jìn)行粗略或細(xì)微調(diào)節(jié)。在檢測(cè)過(guò)程中,操作人員可以鎖住飛梭旋鈕,以避免參數(shù)值被意外修改。這種硬件配置可以快速切換參數(shù)值,滿足了那些偏好使用飛梭旋鈕調(diào)整參數(shù)的用戶的要求。飛梭旋鈕配置的設(shè)計(jì)符合IP66的要求。 | 瀏覽鍵區(qū)EPOCH 650型儀器的瀏覽鍵區(qū)是EPOCH探傷儀的標(biāo)志性特色。瀏覽鍵區(qū)的向上、向下箭頭鍵用于參數(shù)的粗略調(diào)節(jié),向左和向右箭頭鍵用于參數(shù)的細(xì)微調(diào)節(jié)。瀏覽鍵區(qū)還包含其它幾個(gè)功能及常用參數(shù),如:增益、保存、確定鍵及退出鍵。瀏覽鍵區(qū)配置的設(shè)計(jì)符合IP67的要求。 |
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外觀特性EPOCH 650型儀器是一款輕重量、易攜帶的探傷儀,其堅(jiān)固、靈活的特點(diǎn)使其可用于幾乎所有檢測(cè)環(huán)境中。這款儀器的一些主要外觀特性如下:
標(biāo)準(zhǔn)配置
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儀器的輸入/輸出 | USB端口 | USB(OTG)端口 |
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RS-232端口 | 有 | |
視頻輸出 | 標(biāo)準(zhǔn)VGA輸出 | |
模擬輸出 | 1個(gè)模擬輸出(可選),可選的1 V/10 V全標(biāo)度,4 mA | |
報(bào)警輸出 | 3個(gè)報(bào)警輸出,5V TTL,10 mA | |
觸發(fā)器I/O | 觸發(fā)器輸入為5V TTL; 觸發(fā)器輸出為5V TTL,10 mA | |
編碼器輸入 | 單軸編碼器線(正交,僅適用于腐蝕模塊模式) | |
環(huán)境評(píng)級(jí) | IP評(píng)級(jí) | 根據(jù)IEC 60529-2004(外殼防護(hù)等級(jí)– IP規(guī)范)標(biāo)準(zhǔn),瀏覽鍵區(qū)硬件設(shè)計(jì)符合IP67侵入保護(hù)評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn),飛梭旋鈕硬件設(shè)計(jì)符合IP66侵入保護(hù)評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。 在新開(kāi)發(fā)的產(chǎn)品正式投入生產(chǎn)以前,奧林巴斯要對(duì)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)進(jìn)行內(nèi)部檢驗(yàn)。這款儀器經(jīng)測(cè)試證明符合IP評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。 |
爆炸性氣氛 | 通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法511.4程序I中規(guī)定的測(cè)試,可在防火協(xié)會(huì)規(guī)范(NFPA 70)500節(jié)I級(jí)2分段D組中規(guī)定的爆炸性氣氛中安全操作。 | |
防撞擊測(cè)試 | 通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法516.5程序I中規(guī)定的測(cè)試,每個(gè)軸6個(gè)循環(huán),15 g,11 ms半弦波。 | |
防振動(dòng)測(cè)試 | 通過(guò)了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法514.5程序I附錄C圖6中的測(cè)試,一般暴露:每軸1小時(shí)。 | |
工作溫度 | –10°C~50°C | |
電池存儲(chǔ)溫度 | 0°C~50°C | |
一般規(guī)格 | 外型尺寸(寬 x 高 x 厚) | 236 mm x 167 mm x 70 mm |
重量 | 1.6公斤,包括鋰離子電池 | |
鍵區(qū) | 英文、國(guó)際符號(hào)、日文、中文 | |
語(yǔ)言 | 英語(yǔ)、西班牙語(yǔ)、法語(yǔ)、德語(yǔ)、日語(yǔ)、中文、葡萄牙語(yǔ)和俄語(yǔ) | |
探頭接口 | BNC接口或 LEMO接口 | |
數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | 機(jī)載100000個(gè)ID編碼,可插拔2 GB microSD卡(標(biāo)準(zhǔn)) | |
電池類型 | 單個(gè)鋰離子電池,可充電,標(biāo)準(zhǔn)型 | |
電池供電時(shí)間 | 15小時(shí)到16小時(shí)(鋰離子) | |
電源要求 | AC主電源:100 VAC ~ 120 VAC、200 VAC ~ 240 VAC,50 Hz ~ 60 Hz | |
顯示器類型 | 全VGA(640 x 480像素)透反彩色LCD,60 Hz更新速率 | |
顯示屏尺寸(寬 x 高,對(duì)角線) | 117 mm x 89 mm, 146 mm | |
脈沖發(fā)生器 | 脈沖發(fā)生器 | 可調(diào)方波 |
PRF | 10 Hz ~ 2000 Hz,增量為10 Hz。 | |
能量設(shè)置 | 100 V、200 V、300 V或400 V | |
脈沖寬度 | 25 ns ~ 5000 ns(0.1 MHz)范圍內(nèi)可調(diào),利用PerfectSquare技術(shù) | |
阻尼 | 50、100、200、400 Ω | |
接收器 | 增益 | 0 dB ~ 110 dB |
輸入信號(hào) | 20 V P-P | |
接收器輸入阻抗 | 400 Ω ± 5% | |
接收器帶寬 | 0.2 MHz ~ 26.5 MHz,–3 dB | |
數(shù)字式濾波器設(shè)置 | 30個(gè)標(biāo)準(zhǔn)數(shù)字式濾波器設(shè)置 7個(gè)符合EN12668-1:2010標(biāo)準(zhǔn)的濾波設(shè)置(0.2-10 MHz、2.0-21.5 MHz、8.0-26.5 MHz、0.5-4 MHz、0.2-1.2 MHz、1.5-8.5 MHz和5-15 MHz) | |
檢波 | 全波、正半波、負(fù)半波、射頻波 | |
系統(tǒng)線性 | 水平:±0.5 % FSW | |
分辨率 | 0.25 % FSH,放大器精度為±1 dB | |
抑制 | 0 % ~ 80 %滿屏高,帶有可視警告 | |
波幅測(cè)量 | 0 % ~ 110 %滿屏高,分辨率為0.25 % | |
測(cè)量速率 | 在所有模式下,相當(dāng)于PRF | |
校準(zhǔn) | 自動(dòng)校準(zhǔn) | 聲速、零位偏移、 垂直聲束(個(gè)底面回波,或回波到回波)、角度聲束(聲程或者深度) |
檢測(cè)模式 | 脈沖回波、雙晶或穿透 | |
單位 | 毫米、英寸或微秒 | |
范圍 | 3.36 mm to 13388 mm,5,900 m/s | |
聲速 | 635 m/s to 15240 m/s | |
零位偏移 | 0 μs ~ 750 μs | |
顯示延遲 | -59 mm to 13401 mm,鋼中縱波聲速 | |
折射角度 | 0° ~ 90°,增量為0.1°。 | |
閘門 | 測(cè)量閘門 | 2個(gè)完全獨(dú)立的閘門,用于波幅和渡越時(shí)間(TOF)測(cè)量。 |
閘門起點(diǎn) | 在整個(gè)顯示范圍內(nèi)可變 | |
閘門寬度 | 在從閘門起點(diǎn)到顯示范圍的終點(diǎn)之間的區(qū)域內(nèi)可變 | |
閘門高度 | 在2 % ~ 95 %滿屏高范圍內(nèi)可變。 | |
報(bào)警 | 正閾值和負(fù)閾值,小深度(閘門1和閘門2) | |
測(cè)量 | 測(cè)量顯示位置 | 5個(gè)位置(手動(dòng)或自動(dòng)選擇) |
閘門(1和2) | 厚度、聲程、投射、深度、波幅、渡越時(shí)間、小/深度、小/波幅 | |
回波到回波 | 標(biāo)準(zhǔn)閘門2到閘門1,可選界面閘門跟蹤 | |
其它測(cè)量 | DGS/AVG的上沖值(dB)、DGS/AVG的ERS(等效反射體大?。?、AWS D1.1/D1.5的A、B、C和D值定級(jí)、抑制值、回波到參考dB值。 | |
DAC/TCG | 標(biāo)準(zhǔn) | |
DAC點(diǎn) | 多達(dá)50個(gè)點(diǎn),110 dB動(dòng)態(tài)范圍 | |
特殊DAC模式 | 自定義DAC(多6條曲線),20 % ~ 80 %視圖 | |
曲面校正 | 用于角度聲束測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)外徑或棒材校正。 | |
腐蝕(可選) | 交叉零點(diǎn)測(cè)量算法、V聲程校正、單一回波、回波到回波,或編碼B掃描 |
? EP650-TEMPLATE (Q1400002):模板存儲(chǔ)
? EP650-API5UE (Q1400003):API 5UE缺陷定量
? EP650-AVERAGE (Q1400004):波形平均
? EP650-IG (Q1400005):界面閘門
? EP650-BEA (Q1400006):底面回波衰減器(BEA)
? EP650-CORRSN (Q1400001):腐蝕模塊(包含編碼B掃描)
? 600-BAT-L-2 (U8760058):充電鋰離子電池
? EP4/CH (U8140055):胸掛帶
? 600-TC (U8780294):儲(chǔ)運(yùn)箱
? CBAS-10668-0060 (Q7790012):RS232通訊線纜
? DSUB-HD15-6 (U8780333):數(shù)字輸出線纜
? 600-C-VGA-5 (U8780298):VGA輸出線纜
? MICROSD-ADP-2GB (U8779307):2 GB microSD存儲(chǔ)卡
? 600-SC-K (U8780334):軟便攜袋(飛梭旋鈕機(jī)型)
? 600-SC-N (U8779879):軟便攜袋(瀏覽鍵盤(pán)機(jī)型)
? N600-EXTALM (U8780332):外置報(bào)警蜂鳴器
? CBAS-10669-0010 (Q7790008):B掃描小車形編碼器線纜(10英尺,還可提供其它長(zhǎng)度)
EPOCH 650型儀器具有品質(zhì)的超聲性能。這款儀器基于與EPOCH 600和EPOCH 1000系列儀器相同的數(shù)字式結(jié)構(gòu), 脈沖發(fā)生器/接收器EPOCH 650型儀器的標(biāo)準(zhǔn)配置具有強(qiáng)大的缺陷探測(cè)性能,如:
| EPOCH 650回波到回波,帶有閘門跟蹤 |
標(biāo)準(zhǔn)軟件特性動(dòng)態(tài)DAC/TCG:對(duì)比DAC曲線或?qū)Ρ雀鶕?jù)時(shí)變?cè)鲆娲_定的參考回波波幅,以百分比或以分貝水平計(jì)算信號(hào)波幅。DAC版本包含標(biāo)準(zhǔn)、ASME 3、JIS和自定義。此外還包括以下幾個(gè)主要特性:可動(dòng)態(tài)調(diào)整的DAC曲線、可切換的DAC和TCG視圖、自定義DAC警告曲線,以及20-80% DAC視圖。 DGS/AVG:這是一種利用與特定類型探頭和材料相關(guān)的DGS/AVG圖形,評(píng)估回波信號(hào)的缺陷定量技術(shù)。 AWS D1.1和D1.5:為各種不同的AWS(美國(guó)焊接協(xié)會(huì))焊縫檢測(cè)應(yīng)用提供一個(gè)動(dòng)態(tài)反射體缺陷指示定級(jí)的標(biāo)準(zhǔn)。這個(gè)功能省去了手工計(jì)算的步驟,從而提高了檢測(cè)效率。 | EPOCH 650動(dòng)態(tài)DAC/TCG特性 |
| EPOCH 650型儀器的模板存儲(chǔ)特性 |
底面回波衰減器(BEA):利用閘門2定義的屏幕區(qū)域使被測(cè)工件的底面回波得到衰減。 API 5UE:可按照API建議的程序5UE進(jìn)行缺陷定量。在OCTG管材的驗(yàn)證過(guò)程中,使用波幅距離差分技術(shù)(ADDT)測(cè)量潛在的缺陷尺寸。 波形平均:這個(gè)功能可使實(shí)時(shí)A掃描代表采集到的A掃描平均值,平均除數(shù)為2、4、8、16、32。 | EPOCH 650型儀器的腐蝕模塊特性 |